產(chǎn)品目錄 | Product catalog
產(chǎn)品展示 > 電纜故障測(cè)試儀 > 電力電纜故障測(cè)試儀
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電纜故障綜合測(cè)試儀
LYST-400E電纜故障綜合測(cè)試儀根據(jù)電波在電纜中傳輸?shù)倪^(guò)程中，遇到電纜的特性阻抗發(fā)生變化的地方會(huì)產(chǎn)生反射波的原理對(duì)電纜故障進(jìn)行測(cè)試。再根據(jù)電波在電纜中的傳播速度和兩次反射波的特征拐點(diǎn)代表的時(shí)間，可測(cè)出故障點(diǎn)到測(cè)試端的距離。
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電纜故障分析儀
LYST-400E電纜故障分析儀根據(jù)電波在電纜中傳輸?shù)倪^(guò)程中，遇到電纜的特性阻抗發(fā)生變化的地方會(huì)產(chǎn)生反射波的原理對(duì)電纜故障進(jìn)行測(cè)試。再根據(jù)電波在電纜中的傳播速度和兩次反射波的特征拐點(diǎn)代表的時(shí)間，可測(cè)出故障點(diǎn)到測(cè)試端的距離。
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電纜故障測(cè)試機(jī)
LYST-400E電纜故障測(cè)試機(jī)根據(jù)電波在電纜中傳輸?shù)倪^(guò)程中，遇到電纜的特性阻抗發(fā)生變化的地方會(huì)產(chǎn)生反射波的原理對(duì)電纜故障進(jìn)行測(cè)試。再根據(jù)電波在電纜中的傳播速度和兩次反射波的特征拐點(diǎn)代表的時(shí)間，可測(cè)出故障點(diǎn)到測(cè)試端的距離。
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電纜故障測(cè)量?jī)x
LYST-400E電纜故障測(cè)量?jī)x根據(jù)電波在電纜中傳輸?shù)倪^(guò)程中，遇到電纜的特性阻抗發(fā)生變化的地方會(huì)產(chǎn)生反射波的原理對(duì)電纜故障進(jìn)行測(cè)試。再根據(jù)電波在電纜中的傳播速度和兩次反射波的特征拐點(diǎn)代表的時(shí)間，可測(cè)出故障點(diǎn)到測(cè)試端的距離。
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電纜故障試驗(yàn)儀
LYST-400E電纜故障試驗(yàn)儀根據(jù)電波在電纜中傳輸?shù)倪^(guò)程中，遇到電纜的特性阻抗發(fā)生變化的地方會(huì)產(chǎn)生反射波的原理對(duì)電纜故障進(jìn)行測(cè)試。再根據(jù)電波在電纜中的傳播速度和兩次反射波的特征拐點(diǎn)代表的時(shí)間，可測(cè)出故障點(diǎn)到測(cè)試端的距離。
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電纜故障測(cè)距儀
LYST-400E電纜故障測(cè)距儀根據(jù)電波在電纜中傳輸?shù)倪^(guò)程中，遇到電纜的特性阻抗發(fā)生變化的地方會(huì)產(chǎn)生反射波的原理對(duì)電纜故障進(jìn)行測(cè)試。再根據(jù)電波在電纜中的傳播速度和兩次反射波的特征拐點(diǎn)代表的時(shí)間，可測(cè)出故障點(diǎn)到測(cè)試端的距離。
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動(dòng)力電纜故障測(cè)試儀
LYST-400E動(dòng)力電纜故障測(cè)試儀根據(jù)電波在電纜中傳輸?shù)倪^(guò)程中，遇到電纜的特性阻抗發(fā)生變化的地方會(huì)產(chǎn)生反射波的原理對(duì)電纜故障進(jìn)行測(cè)試。再根據(jù)電波在電纜中的傳播速度和兩次反射波的特征拐點(diǎn)代表的時(shí)間，可測(cè)出故障點(diǎn)到測(cè)試端的距離。
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電纜故障測(cè)試裝置
LYST-600電纜故障測(cè)試裝置采用箱式結(jié)構(gòu)，采用觸摸屏操作界面，所有功能按鍵均在屏幕上直觀地顯示，用戶可通過(guò)觸摸屏直接操作。具有波形儲(chǔ)存功能，可以儲(chǔ)存大量的現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試波形，供隨時(shí)調(diào)用觀察和同屏比較。測(cè)試界面簡(jiǎn)單清晰，功能按鍵定義簡(jiǎn)單明了，測(cè)量方法簡(jiǎn)單快捷。
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電纜故障試驗(yàn)分析儀
LYST-600電纜故障試驗(yàn)分析儀處在外觸發(fā)等待狀態(tài)。當(dāng)加到被測(cè)電纜上的沖擊高壓使故障點(diǎn)閃絡(luò)放電時(shí)，單次閃絡(luò)波形經(jīng)過(guò)電流取樣器輸入儀器，儀器開始采樣，并顯示出測(cè)試波形。
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電纜故障查找儀
LYST-600電纜故障查找儀選擇“高壓閃絡(luò)法”時(shí)，內(nèi)部脈沖信號(hào)斷開，儀器處在外觸發(fā)等待狀態(tài)。當(dāng)加到被測(cè)電纜上的沖擊高壓使故障點(diǎn)閃絡(luò)放電時(shí)，單次閃絡(luò)波形經(jīng)過(guò)電流取樣器輸入儀器，儀器開始采樣，并顯示出測(cè)試波形。
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