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產(chǎn)品名稱:局部放電測(cè)試儀

產(chǎn)品型號(hào):TCD-9305

產(chǎn)品報(bào)價(jià):

產(chǎn)品特點(diǎn):TCD-9305局部放電測(cè)試儀采用*抗干擾組件和*的門顯示電路,抗干擾能力強(qiáng),并具有四種高頻橢圓掃描,適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠試驗(yàn),新產(chǎn)品研制試驗(yàn),電機(jī)、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開關(guān)及其它高壓電器局部放電的定量測(cè)試。可供制造廠、科研部門、電力部門現(xiàn)場(chǎng)使用。

TCD-9305局部放電測(cè)試儀的詳細(xì)資料:

一、TCD9305局部放電測(cè)試儀概述

TCD9305局部放電測(cè)試儀是我廠研制開發(fā)生產(chǎn)的一種新型儀器。它基本上保持了原有局部放電檢測(cè)儀的優(yōu)點(diǎn)和功能,并致力于縮小儀器體積、重量、使之成為名符其實(shí)的攜帶式儀器。該儀器是根據(jù)IEC(270)標(biāo)準(zhǔn),利用脈沖電流法原理研制而成,并滿足GB-7354-87、GB-1207-97GB120897中關(guān)于局部放電測(cè)試對(duì)測(cè)試儀器規(guī)定的技術(shù)要求。該儀器具有靈敏度高、放大器系統(tǒng)動(dòng)態(tài)范圍大、測(cè)試的試品范圍廣、操作簡(jiǎn)便等優(yōu)點(diǎn)。并采用*抗干擾組件和*的門顯示電路,抗干擾能力強(qiáng),并具有四種高頻橢圓掃描,適用于高壓產(chǎn)品的型式、出廠試驗(yàn),新產(chǎn)品研制試驗(yàn),電機(jī)、互感器、電纜、套管、電容器、變壓器、避雷器、開關(guān)及其它高壓電器局部放電的定量測(cè)試??晒┲圃鞆S、科研部門、電力部門現(xiàn)場(chǎng)使用。

二、TCD9305名詞、術(shù)語

1 局部放電

局部放電是指在絕緣的局部位置放電,它并不構(gòu)成整個(gè)絕緣的貫通性擊穿。它包含三種放電形式:內(nèi)部放電(在介質(zhì)內(nèi)部)、沿面放電(在介質(zhì)表面)、電暈放電(在電極*)。

2 電荷量q

在試品兩端瞬時(shí)注入一定電荷量,使試品端電壓的變化和由局部放電本身引起的端電壓的變化相同,此注入量即為局部放電的視在電荷量。

3 視在放電量校準(zhǔn)器

視在放電量校準(zhǔn)器是一標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器,試驗(yàn)前它以輸出某固定電量加之試品兩端,模擬該試品在此電量下放電時(shí)的響應(yīng),此時(shí)調(diào)整刻度系數(shù),確定局部放電檢測(cè)儀的量程,以便在試驗(yàn)時(shí)測(cè)量該試品在額定電壓下的視在放電量。因該放電量時(shí)以標(biāo)準(zhǔn)電量發(fā)生器比較后間接測(cè)出,而非直接測(cè)出,故此放電量稱為視在放電量。

校正電量發(fā)生器是測(cè)量局部放電時(shí)*的儀器,它的性能參數(shù)直接關(guān)系到測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性。

視在放電量校準(zhǔn)器由校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器和校準(zhǔn)電容串聯(lián)組成,其參數(shù)主要包括:脈沖波形上升時(shí)間、衰減時(shí)間、內(nèi)阻、脈沖峰值、校準(zhǔn)電容值等。

校準(zhǔn)脈沖電壓發(fā)生器電壓波形上升時(shí)間為從0.1U00.9U0的時(shí)間,衰減時(shí)間定義為從峰值下降到0.1U0的時(shí)間。

4.檢測(cè)阻抗

檢測(cè)阻抗是拾取檢測(cè)信號(hào)的裝置,在使用中,應(yīng)根據(jù)不同的測(cè)試目的,被試品的種類來選擇合適的檢測(cè)阻抗,以提高局部放電測(cè)量的靈敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。

檢測(cè)阻抗按調(diào)諧電容范圍分112號(hào)。(見表1

5.時(shí)間窗(門單元)

時(shí)間窗是為防止大于局部放電的干擾信號(hào)進(jìn)入峰值檢波電路而設(shè)計(jì)的一種電路裝置。因在實(shí)際試驗(yàn)時(shí),尤其是在現(xiàn)場(chǎng)做試驗(yàn)時(shí),不可避免地是引入一些干擾,所以,時(shí)間窗的使用更顯得重要。

時(shí)間窗的工作原理是把橢圓掃描時(shí)基分成導(dǎo)通(加亮區(qū)域)和截止(未加亮區(qū)域)兩部分,通過改變時(shí)間窗的位置和寬度將放電脈沖置于導(dǎo)通(加亮區(qū)域),干擾脈沖置于截止(未加亮區(qū)域),此時(shí)儀表讀數(shù)即為放電脈沖數(shù)值,而干擾則不論大小,皆不是影響放電脈沖數(shù)值。若此時(shí)兩個(gè)時(shí)間窗同時(shí)關(guān)閉,則儀表讀數(shù)為整個(gè)橢圓上脈沖之峰值。

三、TCD9305技術(shù)參數(shù)

1.可測(cè)試品的電容范圍:6F~250F

2.檢測(cè)靈敏度及允許電流(見表1)

3.橢圓掃描時(shí)基

(1) 頻率:50、100、150200、400z

(2) 旋轉(zhuǎn):以30度為一檔,可旋轉(zhuǎn)120度。

(3) 工作方式:標(biāo)準(zhǔn)-擴(kuò)展-直線。

(4) 高頻時(shí)基橢圓的輸入電壓范圍:13~275V。

4.顯示單元

采用100×80mm矩形示波管,有亮度與聚焦調(diào)節(jié)旋鈕。

5.放大器

(1) 3dB低頻端頻fL20、40KHz任選。

(2) 3dB高頻端頻率fH200、300KHz任選。

(3) 增益調(diào)節(jié):粗調(diào)6檔,檔間增益差10±5%。

(4) 細(xì)調(diào)范圍:>10倍。

(5) 正、負(fù)脈沖響應(yīng)不對(duì)稱性:<5%。

6.時(shí)間窗

(1) 窗寬:5~150(50Hz) 連續(xù)可調(diào)。

(2) 窗位置:每一窗可旋轉(zhuǎn)0~170度。

(3) 兩個(gè)時(shí)間窗可分別或同時(shí)控制。

7、脈沖峰值表

(1) 線性指示:0~100誤差不大于5%。

(2)    指示:1~100誤差不大于5%。

檢測(cè)靈敏度及輸入單元允許電流值

輸入單元序號(hào)

調(diào)電容范圍

靈敏度(PC)

(不平衡電路)

允許電流有效值

不平衡電路

平衡電路

1

625100微微法

0.02

30mA

0.25A

2

25100400微微法

0.04

60mA

0.5A

3

1004001500微微法

0.06

120mA

1A

4

40015006000微微法

0.1

0.25A

2A

5

1500600025000微微法

0.2

0.5A

4A

6

0.0060.0250.1微法

0.3

1A

8A

7

0.0250.10.4微法

0.5

2A

15A

8

0.10.41.5微法

1

4A

30A

9

0.41.56.0微法

1.5

8A

60A

10

1.56.025微法

2.5

15A

120A

11

6.02560微法

5

25A

200A

12

2560250微法

10

50A

300A

7R

電阻

0.5

2A

15A

8、具有輔助識(shí)別放電脈沖相位的零標(biāo)志系統(tǒng)。

9、工作電源 220V±10%   工頻

10、體積:440×430×180mm

11、重量:約15Kg

四、TCD9305系統(tǒng)工程原理簡(jiǎn)介

若試品Ca在試驗(yàn)電壓下產(chǎn)生局部放電時(shí),經(jīng)耦合電容Ck產(chǎn)生脈沖電流,由輸入單元拾取得脈沖訊號(hào),經(jīng)低噪聲前置放大、濾波放大器選擇所需頻帶及主放放大后,在示波屏的橢圓掃描基線上顯示出放電脈沖,同時(shí)也送到脈沖峰值表(對(duì)數(shù)表)顯示其峰值。時(shí)間窗單元控制試驗(yàn)電壓每一周期內(nèi)脈沖峰值表的工作時(shí)間,并在這段時(shí)間內(nèi)將顯示屏的顯示加亮,寬度與位置可以改變,進(jìn)一步加強(qiáng)了抗干擾能力。

整個(gè)系統(tǒng)工作原理可參看框圖(圖1

                                  2  局部放電系統(tǒng)示意圖(外試法)

 

 

五、TCD9305通用試驗(yàn)方法

()試驗(yàn)?zāi)康?/span>

(1) 證實(shí)試品在規(guī)定電壓下沒有高于規(guī)定值之局部放電;

(2) 測(cè)定電壓上升時(shí)出現(xiàn)放電超過某一規(guī)定值時(shí)的低電壓(起始放電電壓)和電壓下降時(shí)放電低于規(guī)定值時(shí)高電壓(終止放電電壓)。

(3) 測(cè)定在某一規(guī)定電壓下的放電強(qiáng)度。

()試驗(yàn)條件

(1) 交流電源電壓應(yīng)為正弦波,不應(yīng)有過大的高次諧波。

(2) 試品的電氣、機(jī)械、溫度條件應(yīng)良好且穩(wěn)定。

(3) 由于電壓回滯現(xiàn)象的影響,在試驗(yàn)前至少幾小時(shí)以上的時(shí)間內(nèi),不要承受超過規(guī)定的局部放電試驗(yàn)電壓高值以上的電壓。

(4) 經(jīng)過搬運(yùn)后的試品,必須靜放一段時(shí)間后再局部放電試驗(yàn)(油浸)。

()試驗(yàn)程序

1. 將試驗(yàn)區(qū)內(nèi)的雜物盡量移到試區(qū)以外,各種金屬物體應(yīng)牢固接地,檢查和改善試區(qū)內(nèi)一切可能放電的部位,應(yīng)特別注意各種地線是否已接地。

2. 根據(jù)不同的試品和試驗(yàn)條件,選擇正確的接線方式。

3. 對(duì)所選擇的測(cè)試回路用視在放電量校準(zhǔn)器對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行刻度系數(shù)校正,校正時(shí)對(duì)所規(guī)定的刻度系數(shù)K值調(diào)節(jié)儀器的增益旋鈕,把分刻度系數(shù)H調(diào)到H=U0C0/K值。校正完畢后,測(cè)試儀器的細(xì)調(diào)(連續(xù)調(diào)節(jié))增益旋鈕不得隨意變動(dòng),同時(shí)應(yīng)將視在放電量校準(zhǔn)器從高壓線路上取下,以免在加壓試驗(yàn)時(shí)將視在放電量校準(zhǔn)器擊穿而使高壓線路短路。

() 注意事項(xiàng)

1. 在試驗(yàn)開始加壓以前,試驗(yàn)人員必須詳細(xì)而全面地檢查一遍線路,以免線路接錯(cuò)。測(cè)試儀器處的接地線是否與接地體牢固連接,若連接不牢或在準(zhǔn)備工作時(shí)掐頭去尾線被腳踢斷,這將可能引起人身和設(shè)備事故。

2.對(duì)于連接線應(yīng)避免將*暴露在外,防止*電暈放電,尤其對(duì)于電壓等級(jí)較高的局部放電試驗(yàn),必要時(shí)要加粗高壓連接線及加裝防電暈罩,減小因場(chǎng)強(qiáng)過高引起的電暈放電。屏蔽罩不能與試品的瓷裙相接觸。

3. 一般情況下,在試驗(yàn)過程中,被試品在耐壓、預(yù)升壓時(shí)局部放電量都比正常值大很多,此時(shí)儀器的儀表必然是超出滿刻度。為防止儀器損壞,應(yīng)將儀器的增益粗調(diào)旋鈕逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以不超出滿刻度為標(biāo)準(zhǔn)。當(dāng)電壓降至測(cè)量電壓時(shí),再將增益粗調(diào)開關(guān)順時(shí)針旋轉(zhuǎn)一檔或更多檔,以便記錄測(cè)量值。

4. 校正電量發(fā)生器校正完畢后,一定要從高壓端脫離,并關(guān)閉電源開關(guān),且儀器的增益細(xì)調(diào)旋鈕不可再調(diào)。因增益粗調(diào)開關(guān)每相鄰兩檔之間的關(guān)系是十倍,且檔位有指示,故升壓后根據(jù)放電量大小,可選擇合適量程。逆時(shí)針旋轉(zhuǎn)時(shí),每降一檔量程擴(kuò)大十倍;反之,順時(shí)針時(shí),量程縮小十倍。

5. 試驗(yàn)完畢后,應(yīng)對(duì)整個(gè)測(cè)試系統(tǒng)再進(jìn)行一次復(fù)查校正,驗(yàn)證是否與試驗(yàn)前所校正出的刻度系數(shù)相等,以免測(cè)試儀器或其它環(huán)節(jié)在試驗(yàn)過程中發(fā)生故障而使測(cè)試結(jié)果不對(duì)。

六、具體操作說明

(一)試驗(yàn)準(zhǔn)備

1 根據(jù)試品的容量Ca,耦合電容的大小Ck,選取適合序號(hào)的輸入單元。表1中調(diào)諧電容量系指與輸入單元初級(jí)繞組并聯(lián)的電容(粗略估算以按試品容量與耦合電容的容量串聯(lián)計(jì)算)。例如:試品容量為120F,耦合電容量為1000F,則所需檢測(cè)阻抗為有          ≈107,查表1可取2號(hào)單元。

 

輸入單元應(yīng)盡量靠近試品,輸入單元經(jīng)8米長(zhǎng)的測(cè)量電纜與放大器輸入插座相連。

2. 試品接入輸入單元的方法有以下幾種(見圖3):

其中:Z為阻塞阻抗;

Ca為試品;

Ck為耦合電容。

 

3TCD9305面板示意圖

4.準(zhǔn)備

TCD9305后面板AC220V插座上接上220V工頻電源,然后打開電源開關(guān),讓儀器預(yù)熱5分鐘,同時(shí)對(duì)有關(guān)開關(guān)進(jìn)行操作。

標(biāo)準(zhǔn)-擴(kuò)展-直線開關(guān)置于標(biāo)準(zhǔn)

放大器頻帶fL、fH分別置20KHz,300KHz,放大器增益粗調(diào)置3檔,細(xì)調(diào)置中間位置,切不可一開始將粗調(diào)開關(guān)置高檔。

根據(jù)不同頻率的試驗(yàn)電源選擇電源頻率,以便觀察合適的橢圓。

如果中頻試驗(yàn)電源,請(qǐng)將中頻試驗(yàn)電壓開關(guān)旋在275V檔,然后再接上中頻電源。觀察數(shù)字表讀數(shù),如果差得太多,可將試驗(yàn)電壓開關(guān)往小檔位上旋一檔,直至合適值,千萬不可旋在太小檔位上,同時(shí)請(qǐng)注意,輸入儀器的中頻電壓萬不可超過規(guī)定值275V!,否則儀器被損壞。

橢圓旋轉(zhuǎn)可不作調(diào)節(jié)。窗開關(guān)打在關(guān)位置,以后根據(jù)干擾出現(xiàn)的相位可開窗適當(dāng)調(diào)旋轉(zhuǎn),根據(jù)干擾情況調(diào)窗寬、位置,使干擾在門窗之外,使局部信號(hào)在窗上,以便讀取放電的數(shù)值。

線性、對(duì)數(shù)開關(guān)置于線性位置。

5. 視在放電量校準(zhǔn)(JZF10校正脈沖發(fā)生器)

用視在放電量校準(zhǔn)器(JZF10校正脈沖發(fā)生器)的輸出接于試品兩端,紅端接高壓端(引線盡可能短,以防干擾),黑端接低壓端,調(diào)節(jié)其輸出放電量,例如50PC,調(diào)節(jié)放大器增益粗調(diào)及增益細(xì)調(diào)旋鈕,使放電量表指示滿度。此時(shí)放電量表指示滿度即100%表示50PC的放電量,注意此時(shí)增益細(xì)調(diào)旋鈕位置不可再動(dòng)。測(cè)量盒應(yīng)盡量靠近試品高壓端。

校準(zhǔn)完畢后,拆除視在放電量校準(zhǔn)器的連線,并關(guān)斷其電源,防止高壓損壞校準(zhǔn)器。

6. 試驗(yàn)操作

接通高壓試驗(yàn)回路的電源,逐步升高電壓至規(guī)定電壓,時(shí)刻注視PC表指示,此時(shí)放電量表的讀數(shù)表示試品放電量的大小,如指示在80%,則表示試品視在放電量為50×80%40PC

若此時(shí)試品放電量剛大于100%即超過滿度,應(yīng)立即將放大器增益粗調(diào)由原來的“3”切換到“2”檔,此時(shí)放電量表100%,則表示500PC,假如此時(shí)放電量指示80%,由試品放電量為500×80%400PC。

若此時(shí)試品放電量小于10%

a. 應(yīng)將放大器粗調(diào)由“3”檔改至“4”檔,此時(shí)放電量表100%則表示5PC,假如此時(shí)放電量表指示80%,則試品視在放電量為5×80%4PC

b.將儀器面板上對(duì)數(shù)、線性開關(guān)切換至對(duì)數(shù)位置,因?qū)?shù)刻度10%以下分辨率高,可直接讀出對(duì)數(shù)刻度。

旋轉(zhuǎn)橢圓旋轉(zhuǎn)開關(guān)使橢圓轉(zhuǎn)到預(yù)期的放電利于觀察之處。通常這個(gè)位置是零標(biāo)脈沖分別處于橢圓上部左側(cè)及下部右側(cè)之處。連續(xù)升高電壓,注意*次出現(xiàn)持續(xù)放電,當(dāng)放電量超過規(guī)定的低值時(shí)的電壓即為局部放電起始電壓。

若有干信號(hào)在放電脈沖附近,可以用窗寬和窗位置將干信號(hào)擾拒之窗外,即合擾窗開關(guān),用一個(gè)或兩個(gè)時(shí)間窗并用窗寬、窗位置來改變橢圓上加亮區(qū)域的寬度與位置,使其避開干擾脈沖,這樣,放電量表的指示值只表示放電脈沖的大小,而不表示干擾信號(hào)的值,另外也可以改變頻帶的方法來提高抗干擾能力。

注:如需判斷放電相位,接上合適的電阻分壓器,取得10V左右的零標(biāo)電壓,緩緩升高試驗(yàn)電壓,橢圓上將出現(xiàn)兩個(gè)零標(biāo)志脈沖,通過零標(biāo)志可判別放電的相位,如圖所示:

 

七、TCD9305測(cè)試中的干擾問題

在局部放電測(cè)試中,往往由于外部干擾信號(hào)的影響,而使測(cè)試結(jié)果産誤判斷,或者使測(cè)試工作根本無法進(jìn)行下去。尤其對(duì)從事局部放電測(cè)試工作經(jīng)驗(yàn)不多的人,更容易引起誤判斷。因此,在局部放電測(cè)試技術(shù)中,消除外部干擾成為一項(xiàng)很重要的技術(shù)內(nèi)容,同時(shí)也是花錢較多的一項(xiàng)技術(shù)措施。

() 外來干擾

1.與電源電壓無關(guān)的干擾

這種干擾與電源電壓(加至被試品上的電壓)無關(guān),它不隨電源電壓的升高或降低而變化。它產(chǎn)生于:電氣開關(guān)的開閉操作、電焊起弧、吊車開動(dòng)、整流電機(jī)的電刷、閃光燈、無線電電磁波以及各種工業(yè)干擾等等。這些干擾通過電源、測(cè)試回路和地線等途徑侵入進(jìn)來。

2. 電源電壓有關(guān)的干擾

這類干擾一般隨電源電壓的增加而變大。它可由試區(qū)內(nèi)各個(gè)部分產(chǎn)生。例如:試驗(yàn)變壓器、高壓引線、試品端部、高壓線路接觸不良、高壓試區(qū)的絕緣物體與地線(或接地金屬物)接觸、試區(qū)內(nèi)金屬物體接地不良、以及其它物體的感應(yīng)放電等等。與電源電壓有關(guān)的干擾的侵入途徑,可以通過電源、高壓導(dǎo)線、空間和地線侵入到測(cè)試回路內(nèi)。

()消除外來干擾的方法

1. 消除與電源電壓無關(guān)的干擾方法:應(yīng)從電源、空間、接地方式幾個(gè)方面采取措施。為了消除空間電磁波的干擾,應(yīng)將試驗(yàn)室加以屏蔽。對(duì)于由電源侵入的干擾,一般在電源進(jìn)口處加隔離變壓器和濾波裝置。消除由接地網(wǎng)來的干擾,應(yīng)采取一點(diǎn)接地方式。

2. 消除與電源有關(guān)的干擾措施:可將高壓導(dǎo)線加粗(用較粗的蛇皮管、薄鐵皮圓筒或鋁筒);對(duì)被試品端部加防暈罩;試區(qū)內(nèi)各地線和金屬物應(yīng)良好接地;試區(qū)內(nèi)的絕緣物體嚴(yán)禁與金屬接地體接觸;在高壓線下部地面上不應(yīng)有螺釘、地線頭等金屬物體。

八、附件

說明書          1

測(cè)試報(bào)告         1

電源線          1

測(cè)試電纜         1根(8米)

保險(xiǎn)絲          2

合格證                    1

九、成套裝置(根據(jù)客戶要求選配)

1. 輸入阻抗

1~12號(hào)任選,7R號(hào)測(cè)長(zhǎng)電纜用。

2. 視在放電量器校準(zhǔn)器(JZF10校正電量發(fā)生器,局放儀校正脈沖發(fā)生器)任選。

3. LB系列工頻、中頻濾波器

4. SBP系列三倍頻感應(yīng)試驗(yàn)設(shè)備

5. 無局放電阻分壓器50KV、100KV150KV、200KV任選。

6. 無局放耦合電容系列

7. YDTW無局放試驗(yàn)變壓器系列

8. 工頻試驗(yàn)控制臺(tái)

十、視在放電量校準(zhǔn)器參數(shù)及使用

() 局放儀校正脈沖發(fā)生器

局放儀校正脈沖發(fā)生器是專為局部放電的檢測(cè)而設(shè)計(jì)的,本儀器的精度、上升時(shí)間、重復(fù)頻率等直接決定了局部放電的測(cè)試精度,此儀器符合IEC標(biāo)準(zhǔn)。此校正脈沖發(fā)生器輸出電量10~5000PC任意調(diào)節(jié)。適用于先校準(zhǔn)后試驗(yàn),先試驗(yàn)后校準(zhǔn)的局放試驗(yàn)中。

一、技術(shù)參數(shù)

1.方波幅值

滿刻度為2.5V、5V10V、25V、50V;

精度為±2%

2. 衰減器:10:1衰減3級(jí)。

3. 輸出脈沖極性

每周期提供一個(gè)主正向脈沖;

“±”每周期提供一個(gè)正向脈沖和一個(gè)負(fù)向脈沖;

“—”每周期提供一個(gè)負(fù)向脈沖。

4. 方波前沿<0.07us

5. 重復(fù)頻率:45H~65Hz,連續(xù)可調(diào)。

6. 脈沖衰減時(shí)間100us~1000us

7. 內(nèi)阻<75Ω

8. 工作方式:感應(yīng)同步,手動(dòng)調(diào)節(jié)。

9. 一次工作時(shí)間5分鐘。

10.儀器工作環(huán)境

0~40,相對(duì)濕度85

儀器周圍無強(qiáng)烈振動(dòng),儀器平放工作,不得傾斜。

11.電源:10V可充電電池。

二、TCD9305操作程序

用戶可根據(jù)實(shí)際情況選擇輸出幅值和Cq(10pF、100pF)、模擬放電量為Q=Cq×Uo。

將輸出電纜一端接到衰減輸出高頻插座,另一端接到裝有注入電容的匹配盒。

將極性開關(guān)調(diào)節(jié)到所需要的脈沖型號(hào),按下啟動(dòng)按鈕,儀器進(jìn)入工作狀態(tài)。調(diào)節(jié)方波幅值旋鈕到所需要的電壓值范圍,然后再調(diào)節(jié)細(xì)調(diào),將同步選擇開關(guān)打到調(diào)頻,然后調(diào)節(jié)旋鈕使脈沖的頻率盡量接近于試驗(yàn)電源的頻率,如果需要同步,將開關(guān)打到感應(yīng)接線柱上,此時(shí)脈沖與電網(wǎng)頻率同步。當(dāng)極性開關(guān)旋到“V”檢查時(shí),看表頭指示是否在紅線以下,如果在紅線以下時(shí)則需充電。

校正結(jié)束后,必須將匹配盒拿下,以免升高壓時(shí)打壞,將儀器置于關(guān)位置。

注:此儀器工作時(shí)必須平放,不能傾斜,另此儀器的方波信號(hào)為不接地的,不用接地。

HD型正電量發(fā)生器的主要技術(shù)指標(biāo)及使用

HD型校正電量發(fā)生器是一種小型的可充電電池供電的視在放電量校準(zhǔn)器,它可以分別以四種放電量向試品兩端注入1.2KHz左右的校正脈沖,可用于先校準(zhǔn)后試驗(yàn)的局放試驗(yàn)中,適合于電工委員是IEC270所推薦的任何一種試驗(yàn)電路。

(一)主要技術(shù)參數(shù)

電池電壓      1.25×8V

輸出電荷量     5、50、500PC5、1050、100PC

方波前沿     ?。?/span>0.07us

脈寬:       100us~1000us

內(nèi)阻:      ?。?/span>75Ω

重復(fù)頻率      1.2KH

頻率變化    ?。?/span>±200H

注入電容     10PF100PF10PF、20PF

(二)使用方法

首先檢查HD校正脈沖發(fā)生器的電池電壓,如面板上電壓表指示,在8V以上方能正常工作。

將輸出的紅、黑兩個(gè)端子上接上導(dǎo)線,紅端子上的導(dǎo)線盡量短,且靠近試品的高壓端,黑線導(dǎo)線接試品的低壓端,將校正電量開關(guān)置于510、50100、500中任何合適一檔即可校正。頻率可在1.2KHz附近調(diào)節(jié)。

校正電量發(fā)生器使用后及時(shí)將調(diào)節(jié)電荷量的波段開關(guān)旋在關(guān)位置。如校正電量發(fā)生器工作時(shí)表頭指示在8V以下,則需充電,充電要適時(shí),且時(shí)間要連續(xù)達(dá)到5小時(shí)。如校準(zhǔn)電量發(fā)生器常期未用,則每月補(bǔ)充一次電。

十一、常見圖譜分析

1)接觸不良

這種干擾源如圖1所示。其特點(diǎn)是干擾波位于橢圓時(shí)基的零點(diǎn)附近。在正負(fù)半波上對(duì)稱出現(xiàn),幅值相差不大。干擾在低電壓時(shí)即出現(xiàn)。電壓增大時(shí),干擾占位區(qū)域也增大,由于疊加效果幅值增大較慢。有時(shí)在電壓達(dá)到某一定數(shù)值后是*消失。

造成這種干擾的原因有:試驗(yàn)回路中金屬對(duì)金屬接觸不良,塑料電線半導(dǎo)電屏蔽層中粒子間接觸不良,電容器卷繞鋁箔電極與插接片接觸不良等。

2)浮動(dòng)電位物體

波形見圖2,特別是在電壓峰值之前的正負(fù)半波部分出現(xiàn)。等幅值間隙不等。由于余輝,有時(shí)成對(duì)的出現(xiàn),有時(shí)圖像有飄動(dòng)。電壓增加時(shí),根數(shù)增加,間隙縮小,中間值不變。有時(shí)電壓增加到一定值后干擾信號(hào)是消失,再降低電壓時(shí),又是重新出現(xiàn)。

起因:金屬或碳質(zhì)導(dǎo)體之間的間隙放電。它可以發(fā)生在試樣上或測(cè)試回路中。在兩個(gè)孤立的導(dǎo)電物之間,例如地面上處于浮動(dòng)電位的多種物體間發(fā)生。

3)外部*電暈

波形如圖3,特別是僅在試驗(yàn)電壓的一個(gè)半波中出現(xiàn),位于外施電壓的峰值部分,等幅值,等間距。電壓增加時(shí),放電訊號(hào)波的根數(shù)增加,但幅值總不變。

起因:高壓電極的*或邊緣對(duì)空氣中的放電。若干擾訊號(hào)位于橢圓時(shí)基的負(fù)關(guān)周,則*電暈處于高電壓下,若干擾訊號(hào)位于時(shí)基橢圓的正半周,則*在接地部分,有時(shí)也可能高壓、接地部分都有*電暈放電,則時(shí)基橢圓的正負(fù)半周就出現(xiàn)兩組訊號(hào)。

4)液體介質(zhì)中的*放電

波形見圖4,特別:在試驗(yàn)電壓正負(fù)半周峰值位置均有一組訊號(hào),同一組訊號(hào)等幅值,等間隔,一組中間值較大的訊號(hào)先出現(xiàn),隨電壓增加值也增大。一組中間值小的訊號(hào)其幅值不隨電壓變化。

起因:在絕緣液體中發(fā)生了*或邊緣電暈放電?;蛞唤M大的訊號(hào)出現(xiàn)在正半周,則*位于高壓部分;若它出現(xiàn)在負(fù)半周,則*處于接地部分。

5)繼電器,接觸器的動(dòng)作

干擾訊號(hào)波形見圖5,特點(diǎn):在時(shí)基橢圓上干擾訊號(hào)波形分布不規(guī)則,間隙地出現(xiàn),且同試驗(yàn)電壓大小無關(guān)。

起因:閃光燈,熱繼電器,接觸器和各種火花試驗(yàn)器或有火花放電的記錄器動(dòng)作時(shí)造成。

6)可控硅元件

干擾訊號(hào)波形見圖6,特點(diǎn):干擾訊號(hào)在時(shí)基橢圓上之位置固定,每一元件產(chǎn)生一個(gè)獨(dú)立的高頻脈沖訊號(hào)。電路接通,電磁耦合效應(yīng)增強(qiáng)時(shí),訊號(hào)幅值增加,也可能發(fā)生波形展寬、相移,從而在時(shí)基上占位增加。

起因:供電網(wǎng)絡(luò)中有可控硅器件在運(yùn)行。干擾的大小同所用可控硅器件的功率直接有關(guān)。

7)異步電機(jī)

干擾波形見圖7。特點(diǎn):在時(shí)基橢圓上正負(fù)半周波形出現(xiàn)對(duì)稱的二組訊號(hào),且沿掃描時(shí)基逆時(shí)針方向移動(dòng)。

起因:異步電機(jī)運(yùn)行時(shí)產(chǎn)生的干擾訊號(hào)耦合到檢測(cè)回路中來。

8)螢光燈

干擾波形見圖8。特點(diǎn):在橢圓時(shí)基上出現(xiàn)欄柵狀幅值大致相等的脈沖,并伴有正負(fù)半波時(shí)對(duì)稱出現(xiàn)的二簇脈沖組。

9)電動(dòng)機(jī)

干擾波形見圖9。特點(diǎn):沿橢圓時(shí)基均布,等幅值每一個(gè)單個(gè)訊號(hào)或字形。

起因:帶換向器的電動(dòng)機(jī)如風(fēng)扇、電吹風(fēng)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)所發(fā)出的干擾訊號(hào)。

10)無線電干擾

干擾波形見圖10,特點(diǎn):沿整個(gè)時(shí)基橢圓分布的幅值有調(diào)制的高頻正弦波。

起因:高頻電力放大器,無線、廣播話筒等。

11)中高頻工業(yè)設(shè)備

干擾波形見圖11。特點(diǎn):訊號(hào)在時(shí)基橢圓上連續(xù)發(fā)生,但僅在半周內(nèi)出現(xiàn)。

起因:感應(yīng)加熱裝置及頻率接近局部放電檢測(cè)頻率的超聲波發(fā)生器等。

12)磁飽和產(chǎn)生的諧波

干擾波形見圖12。特點(diǎn):在時(shí)基橢圓正負(fù)半波上對(duì)稱出現(xiàn)一對(duì)諧波振蕩訊號(hào),訊號(hào)幅值隨電壓增加而增加,電壓除去,訊號(hào)消失。訊號(hào)穩(wěn)定,能重復(fù)再現(xiàn)。

起因:試驗(yàn)系統(tǒng)中鐵芯設(shè)備(試驗(yàn)變壓器,并聯(lián)或串聯(lián)電抗器,濾波電抗器,匹配變壓器,調(diào)壓變壓器)磁飽和時(shí)產(chǎn)生的諧振訊號(hào)。

13)電極在電場(chǎng)方向運(yùn)動(dòng)

干擾波形見圖13。特點(diǎn):僅在時(shí)基橢圓的半周中出現(xiàn)二個(gè)訊號(hào)脈沖,它們相對(duì)于峰值點(diǎn)對(duì)稱分布。起始點(diǎn)該二訊號(hào)很靠近,隨電壓增大,二者逐漸分開,且有可能產(chǎn)生新的訊號(hào)脈沖對(duì)。

起因:電極(尤其是金屬箔電極)在電場(chǎng)作用下運(yùn)動(dòng)。

14)介質(zhì)表面放電

干擾訊號(hào)波形見圖14。特點(diǎn):放電訊號(hào)出現(xiàn)在試驗(yàn)電壓峰值之前。正負(fù)半周中都有,而且幅值基本相等。訊號(hào)幅值和位置有隨機(jī)性變化。開始時(shí),放電訊號(hào)是可分辨 的,到一定電壓值后便難以分辨。

起因:二個(gè)接觸的絕緣導(dǎo)體之間介質(zhì)表面上的,或介質(zhì)表面上切向場(chǎng)強(qiáng)較高的區(qū)域發(fā)生放電。

15)漏電痕跡和樹枝

波形特點(diǎn):訊號(hào)與一般典型的圖像不符合,波形呈不規(guī)則,不確定的圖像,與電壓有關(guān)。

起因:臟污絕緣中泄漏,絕緣局部過熱致的碳痕跡或電樹枝足道等。

上述有些圖像,如(4)、(13)、(14)、(15)等也可能即屬試品本身的缺陷。(15)則為介質(zhì)內(nèi)部放電之圖像。

 

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